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电子及电子元器件高低温冲击实验

2020-05-15 点击量:

  高低温冲击实验是用于考核产品在温度急速变换环境下的适应性,是产品设计定型和批量生产阶段的一种质量把控方式,在有些情况下也能用于环境应力筛选试验。高低温冲击试验室确定元件暴露在高低温极值下,抵御高低温极值交替冲击的能力。

  高低温冲击试验方法:


高低温冲击实验
 

  一、实验前准备工作
  1、对电子及电子元器件进行外观检查、电性能和机械性能检查。
  2、将样品按照相关标准进行安装,在放入工作室内时,硬保证气流能顺利无阻穿过、绕过被检测样品。

  二、试验步骤
  1、将样品放入低温箱内,此时低温箱的温度调整为-55℃(可存在0~-3℃的误差)或-65℃(可存在0~-5℃的误差),并在该温度下保持0.25~4h(具体时间参考下表)。
  2、第一步结束后,需在5min中内将样品从低温箱移至高温箱,此时高温箱的温度应调整为25℃(可存在±10℃的误差),并在该温度下保存,保存时间可参考下表。
  3、上一步结束后,需在5min中内将样品从高温箱再移至低温箱,第一步低温箱温度为-55℃的,高温箱温度可设定为85℃(可存在0~-3℃的误差),第一步低温箱温度为-65℃,高温箱温度可从125℃(可存在0~-3℃的误差)、200℃(可存在0~-5℃的误差)、350℃(可存在0~-5℃的误差)、500℃(可存在0~-5℃的误差)、150℃(可存在0~-5℃的误差)中选择检测,检测时间参考下表。
  4、上一步结束后,按照第二步方法再进行设定。
  5、将 1~4步循环5次、25次、50次、100次,除了最初的5次循环不可中断外,之后的任何一次循环都可中断试验,再恢复试验之前可允许恢复试验标准大气压。



高低温冲击试验检测时长


  在高低温冲击实验循环结束 后,将样品放置在标准大气压条件下,待样品温度稳定,然后根据相关标准,对样品的外观、电性能、机械性能进行检查。

     了解更多:高低温冲击实验箱

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